Система CD500 производства PE.fiberoptics предназначена для измерения хроматической дисперсии (CD) и поляризационно модовой дисперсии (PMD) оптического волокна в лабораторных и производственных условиях.
Основные характеристики:
- Диапазон длин волн: 1250-1630 нм
- Длинны волн 850нм и 1060нм доступны в версии CD500SW
- Применяются все типы волокна: стандартные, DS, NZDS и спец. волокна
- Динамический диапазон: 45 dB
- Автоматизированные высокоскоростные измерения менее, чем за 10 секунд
- Полностью соответствует требованиям IEC, TIA и ITU
- Совместимость с Windows 8
- Программные интерфейсы на базе Windows с возможностью дистанционного управления
ДОКУМЕНТАЦИЯ
CD500 позволяет получать значения хроматической дисперсия методами фазового и прямого дифференциально фазового сдвига. PMD может быть измерено с помощью интерферометра или фиксированного анализатора в течение 4 секунд. Значение дисперсии может быть получено в течение 10 секунд. Возможно измерение любого типа одномодовых волокон, включая G652, G655, G657, DCF, PM, и многомодовых. Все тесты соответствуют IEC, TIA и ITU.
ОСНОВНЫЕ ОПЦИИ СИСТЕМЫ CD500
- Опция CD500L
Система измерения CD и PMD с помощью перестраиваемого лазера (внешний лазер)
Опция CD500L добавляет к серии CD500 перестраиваемый лазер с ультра-высокой мощностью и узким спектром для тестирования параметров волокон и компонентов. С помощью такого комплекта появляется возможность проводить измерения как пассивных, так и активных линий, причем возможность тестирования через несколько усилителей является стандартным функционалом.
- Опция PMD500HS
Система с максимальными возможностями измерения PMD
PMD500HS доступна как самостоятельная система измерения PMD или как полностью интегрированная в систему CD500, предлагая сочетание высокоскоростного интерферометра с фиксированным анализатором, установленным в систему CD500. Такая комбинация позволяет проводить измерения практически любого диапазона PMD от 0,005 пс до более чем 100 пс, с возможностью сканирования дифференциально-групповой задержки (DGD, Differential Group Delay) свыше 300 пс.
- Опции CD500SA и CD500LC
Спектральное затухание и длина волны отсечки (Внешний детектор и белый свет)
В опциях CD500SA/LC доступны программируемые ультра-стабильные светодиодные источники для измерения затухания и программируемый внешний источник белого света для измерения отсечки. Самый современный цифровой процессор обработки сигналов позволяет производить очень точные и воспроизводимые измерения затуханий и отсечек на всех видах оптического волокна, который исключает проблемы во время измерения очень длинных участков линий передач. Оптика со сверхвысокой светосилой позволяет производить соединение без настроек и оптимизации, что гарантирует точность вне зависимости от типа волокна.
- Опция CD500SM
Мониторинг спектральных потерь
Опция CD500SM предлагает малошумную систему измерения спектральной мощности с низким дрейфом с возможностью сохранения результатов, как опорные значения, что позволяет отслеживать медленную деградацию волокна, такую, как водородное старение.
- Опция CD516
Мультиплексор
Опция CD516 дает возможность автоматизировать регулярные измерения, позволяя проводить тесты одновременно многих волокон нажатием одной кнопки. Измерения, которые могут быть автоматизированы, включают в себя CD и PMD (CD500), натяжение кабеля (SPL500), спектральные потери (CD500SM), разброс скорости сигнала между волокнами одного кабеля (CD509SKW).
- Опция CD509
Измерение натяжения кабеля
Опция добавляет в систему прибор для измерения внутреннего напряжения и длины деформации волокна с возможностью сохранения результатов как опорные, что позволяет наблюдать изменение физических и оптических параметров оптоволокна при механическом воздействии или под воздействием окружающей среды на кабель. Данное оборудование также доступно в отдельной системе SPL500. Кроме того, при заказе опции CD500BL, появляется возможность проводить измерения потери на изгибах кабеля волокна на любой поддерживаемой этой опцией длине волны.
Related Products
-
Fiber Sigma TP-2
Устройство для испытания оптического волокна методом 2-х точечного изгиба -
WS500
Система измерения спектрального затухания, отсечки и диаметра модового поля